巴西科技部 (MCTIC) 有一个研究单位 Renato Archer 信息技术中心 (CTI),该中心的两名集成电路工程师在今年五月的 MunEDA 用户组会议上介绍了利用 RHBD(抗辐射设计)技术为空间应用设计锁存电流限制器 (LCL) 电路的课题。
小型卫星在恶劣的环境中运行,但由于重量要求低,没有足够的屏蔽。因此,电子电路必须使用按工艺 (RHBP) 或按设计 (RHBD) 进行辐射加固技术。
LCL 是一种智能电源开关,可保护电子系统,通过限制电流隔离配电故障。这可以保护卫星中的天基电子设备免受辐射影响,例如:
单事件闩锁 (SEL)
在 MUGM2023 贡献中,作者展示了三种 LCL 设计以及 MunEDA WiCkeD 如何为其 RHBD 电路优化做出贡献:
LCL智能电源开关图
为了通过抗辐射设计减轻辐射效应 (RHBD),做出了几项决定:
使用 MunEDA WiCkeD 优化 LCL 电路的性能和鲁棒性,使其不受参数和工艺变化的影响
设计了两种电路版本,一种采用标准晶体管,另一种采用抗辐射设计 (RHBD) 技术。
具有封闭式布局晶体管 (ELT) 的冗余结构
使用的 EDA 工具有:用于原理图设计的 Cadence Virtuoso、用于优化的 MunEDA WiCkeD 以及用于 DRC/LVS 的 Cadence Assura 或 西门子Calibre。在该项目中使用 WiCkeD 的优势在于:
RHBD 电路的性能与标准晶体管电路类似,因此两种 LCL 电路在不同负载和功率晶体管下都能正常工作。消除了短路峰值电流,保证了整个系统的安全。他们计划进行辐射测试来验证所使用的加固电路技术。
总结
事实证明,在 LCL 电路中使用 RHBD 方法可以有效消除短路峰值电流,从而使电子系统在太空运行时免受故障模式的影响。
文章来源:EETOP编译自semiwiki
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