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广立微:推出晶圆级可靠性测试设备

来源: 责编: 时间:2023-12-11 09:28:19 233观看
导读最近,杭州广立微电子股份有限公司隆重推出了晶圆级可靠性(Wafer Level Reliability WLR)测试设备,该设备采用智能并行测试技术,极大地缩短了WLR测试的时间。此外,搭配广立微定制化的软件系统,进一步提升了用户的工作效率。这

最近,杭州广立微电子股份有限公司隆重推出了晶圆级可靠性(Wafer Level Reliability WLR)测试设备,该设备采用智能并行测试技术,极大地缩短了WLR测试的时间。此外,搭配广立微定制化的软件系统,进一步提升了用户的工作效率。CFj28资讯网——每日最新资讯28at.com


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这款广立微WLR晶圆级可靠性测试设备的推出不仅拓宽了公司的产品线,为有晶圆可靠性测试需求的客户提供了更多选择,同时也为公司实现业务多元化增长注入了新的动力。这标志着广立微在晶圆级电性测试设备领域取得了重要的创新成果。CFj28资讯网——每日最新资讯28at.com


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随着大型数据中心、新能源汽车等新兴应用场景的崛起,市场对芯片产品可靠性和性能的要求愈发提升。在芯片制造阶段,晶圆级可靠性测试变得尤为关键。这项测试模拟了芯片在复杂多变的使用环境中可能遇到的极端条件,如不同温湿度、电磁干扰等,以验证芯片元器件在特定状态下保持电性规格高一致性的能力。CFj28资讯网——每日最新资讯28at.com


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广立微研发的WLR晶圆级可靠性测试设备具备高稳定性、高量测精度和高效率的特点,支持并行量测。通过与广立微的定制化软件系统协同工作,可以满足芯片各种可靠性测试的需求,包括高电压、高电流、长时间以及高低温量测等,全面检测芯片在各种工作环境下的表现,确保其在研发、设计和制造中的高质量和可靠性。CFj28资讯网——每日最新资讯28at.com


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广立微一直以来致力于提供技术领先的半导体参数测试系统,紧跟市场需求,此次横向拓展WLR晶圆级可靠性测试设备品类,为更广泛的市场需求提供了全面的解决方案。未来,广立微将继续推动差异化产品布局,努力创新出更多自主设计的半导体设备,为客户创造更大价值,同时为中国半导体产业的发展贡献力量。CFj28资讯网——每日最新资讯28at.com


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