图片来源：天眼查
专利摘要显示，本申请提供了一种图像处理方法和设备，能够获得较好的去除反光的效果，提高背景图像的质量，提升用户体验。该方法包括：获取待处理图像，待处理图像是隔着透明介质对目标对象进行拍摄得到的；基于待处理图像的第一左视图和第一右视图，确定第一指导图，第一指导图包括目标对象的高频信息；将待处理图像和第一指导图输入至训练好的重建网络模型中，得到处理后图像，处理后图像为对待处理图像进行去反射处理得到的图像，其中，重建网络模型是基于样本图像、样本图像的背景图像和样本图像的反射图像进行训练得到的，样本图像的背景图像是未隔着透明介质进行拍摄得到的，样本图像的反射图像是对透明介质进行拍摄得到的。（校对/刘沁宇）
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专利摘要显示，本申请提供一种存储器的检测方法及存储器，涉及半导体技术领域，用于解决存储单元和位线之间的漏电检测复杂的技术问题，该存储器的检测方法包括：选通字线，通过位线向所有的存储单元中写入预设存储数据；关闭字线，并向位线上施加第一电压，以使位线上的电位与存储单元的电位不同；保持预设时间后，选通字线，通过位线读取所有的存储单元中的实际存储数据；将每个存储单元的实际存储数据与预设存储数据进行比较，以判断该存储单元是否存在漏电。通过在所有的存储单元中进行预设存储数据的写入和实际存储数据的读出，且位线上的电位单独施加，无需依次选通字线，存储单元与位线之间的漏电检测简单。（校对/刘沁宇）
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本文链接：http://www.28at.com/showinfo-22-8724-0.html【授权】三星将96项专利独家许可权授予IKT；荣耀“图像处理方法和设备”专利公布；华为公开“晶圆处理设备和半导体制造设备”专利
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